POM均聚 漏電起痕指數(解決方案A)
- 專注供應良好的抗蠕變性、抗紫外線、降噪、成核的、快的成型周期POM均聚,美國普立萬、美國EnCom、巴西Petropol、沙伯基礎、Generic等等廠家生產的POM均聚.POM均聚 漏電起痕指數(解決方案A)數據請參看下表,其中良好的抗蠕變性、抗紫外線、降噪、成核的、快的成型周期POM均聚等不同特性的POM均聚漏電起痕指數(解決方案A)的值均有區分.
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- POM均聚 漏電起痕指數(解決方案A) 對比表(部分)
廠家及牌號 | 試驗條件 | 測試方法 | 漏電起痕指數(解決方案A) |
POM均聚 德國pal PALFORM® R H 50 (抗撞擊性高,中等粘性,耐化學性良好,高強度,耐燃油性,注射成型) | | IEC60112 | 600 V |
POM均聚 德國pal PALFORM® R H 10 (高強度,耐化學性良好,抗撞擊性高,抗溶劑性,耐燃油性,粘度高,注射成型) | | IEC60112 | 600 V |
溫馨提示 |
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